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壹探芯城——搜索验真原厂标准件平台
发布时间:2022-4-16

深圳市壹探网络技术有限公司

Shenzhen ETCHIPS Network Technology Co., Ltd

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主营产品:X-Ray无损透视检测、De-cap开盖检测、翻新检测、X-Ray数据库等

网址:etchips.com

电话:0755-86533070

邮箱:etchips@etchips.com


壹探芯城是宏能的线上增值服务平台,结合宏能自身QC,第三方实验室和global EMS的现货检验方式,力荐使用x-ray比对的方式判定IC真伪,在线有15万+可追溯样品的外观和x-ray图片数据。我们支持在线X-Ray验真比对,支持在线下单送检(24H),支持客户提供长期需购买的样品清单,壹探芯城进行整包样品备货,客户按需再从壹探芯城分批剪切下单。



部分产品介绍

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X-Ray无损透视检测

产品简介:

X-Ray检测是利用X射线穿透进行实时非破坏性分析,利用X射线穿透检测电子元器件、半导体封装产品等内部结构,主要检查芯片的引脚框架、晶圆尺寸及布局、金线绑定有无异常、封装有无缺陷等,也可与标准件的X-Ray内部结构照片来做对比判断。

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De-cap开盖检测

产品简介:

开盖(解封)主要是利用仪器将芯片表面的封装腐蚀,结合金相显微镜,检查IC内部晶圆的大小、厂家的标志、版权年份、晶圆代码等;检测IC内部金丝和金球有无异常情况。

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翻新检测

产品简介:

对元器件进行外观检测,主要包括:检测元器件尺寸、丝印、本体、 管脚等是否符合规格书,再利用金相显微镜检测是否有重新打磨痕迹、不明残留物、管脚是否上锡,氧化等。

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X-Ray数据库

产品简介:

X-Ray数据库现有标准样品超15万件,且数据库图片不断充实中。在线查询X-Ray图片,在线比对验真,降低客户自己采购标准样品的时间和标准样品送检的成本,缩短检测判断,提高客户检测标准样品的效率。



传感器行业盛事——2022深圳国际传感器展暨高峰论坛6月于深圳国际会展中心启幕

论坛预告 | 2022深圳国际传感器技术与应用高峰论坛

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2022深圳国际传感器技术与应用展览会暨高峰论坛(SENSOR EXPO)将于6月22-24日在深圳国际会展中心(宝安新馆)举行。传递行业热点,感知市场动态,SENSOR EXPO 2022聚焦传感器及其制造与应用技术,是传感器企业进行上下游交流合作的重要平台。欢迎关注!

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国际传感器展暨高峰论坛

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手机:13265930227(微信同号)

传真:020-29193591

E-mail:ex36035@126.com




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